一、系统介绍
LED作为一种新型的绿色光源产品，必然是未来发展的趋势，二十一世纪将进入以LED为代表的新型照明光源时代。在“国家半导体照明工程”的推动下，形成了上海、大连、南昌、厦门、深圳、扬州和石家庄七个国家半导体照明工程产业化基地。2008年北京奥运会、上海世博会、广州亚运会对LED照明的集中展示让人们对LED有了全新的认识，有力推动了中国半导体照明产业的发展。近年来，国内各大高等院校对LED的研究正在如火如荼的进行，LED的封装和测试是研究LED的重要手段。DICE-LED5000全自动化LED封装测试实训平台，是一个小型LED封装测试工厂，可实现批量LAMP LED或POWER LED产品的生产，为广大科研工作者和学习人员学习和研究LED封装工艺提供了便利的条件。
二、工艺流程
三、实训内容
n 芯片识别实训
n 芯片检验实训
n 扩晶机调试及扩晶
n 银胶、绝缘胶解冻搅拌
n 全自动固晶机操作实训
n LED光电烤箱设置实训
n 固化实训
n 全自动焊线机操作实训
n 全自动点胶机编程实训
n 金线压焊质量测试
n AB胶、色素、扩散剂配置实训
n 全自动灌胶机操作实训
n 全自动脱泡机操作实训
n 短烤实训
n 离膜机调试及离膜实训
n 液压冲床调试实训
n 一切实训
n 二切机调试及二切实训
n 全自动分光机操作实训
n LED品质分析实训
n 防静电包装实训
n LED封装工艺文件制作实训
n LED 电参数测量实训
n LED 色参数测量实训
n LED 的光参数测量实训
四、主要设备
DICE-520GJ 全自动平面固晶机 Ø Ø 精度X-Y：+/-1.5mil； Ø 适用支架：长280mm×宽140mm×厚5mm； Ø 固晶方式：平面甩臂式； Ø 点胶方式：移印式点胶； Ø 图像系统：双PRS CCD摄像； 操作系统：简体中文windowsxp。 |
DICE-520JS 全自动金丝球焊机 Ø 焊线速度 : <=60msec； Ø 焊线精度 : ±3.0 μm ； Ø X Y Z编码器分辩率：0.1um； Ø 适用金线 : 0.6 ～ 3.0mil； Ø 焊接范围 : 56mm × 80mm ； Ø 焊线长度 : 5mm； Ø 线弧高度 : 100μm。 |
DICE-500YZ 自转公转荧光粉脱泡机 Ø 脱泡方式：自转+公转混合 Ø 定时设定范围：0秒～30分钟 Ø 公转速度：200～2200rpm Ø 自转速度：公转速度*36.7 Ø 标准容器：150ml、PE制 |
全自动荧光粉点粉机 Ø 机械臂：3轴控制 Ø 动作范围：300×300×100mm Ø 最大移动速度600mm/sec.(X,Y轴)， Ø 重复定位精度：±0.01mm，最小分辨率 0.01mm Ø 点胶方式：马达步进式 Ø 控制方式：微机数码控制 |
LED测试系统设备
SLT1102 LED光电参数测试仪 测量各种规格发光或红外LED管（大功率管、贴片LED另配测量夹具）的电参数，包括正向电压、正向电流、反向电压和反向漏电流； 测量LED光强／辐射强度、角度（手动估测）； 测量LED光通量／辐射通量（另配积分球）； 测量背光源的亮度（另配背光源支架）； 电参数上下限档位设定，超限自动报警，可对产品参数进行筛选和对比； 凭借内置先进的校准软件进行校准与维护。 |
SLT5102 LED光强角分布测试仪 测量范围包括各种规格LED，如普通2脚、3脚LED管、大功率管、贴片LED、食人鱼等； 测量LED 的电参数，包括反向漏流IR 、正向压降 Vf ； 测量LED 的光参数, 包括二维空间光强角分布、最大光强、动态光强、零度光强、半强度角、偏差角、光强扩散角、光通量； 配合红外探测器测量红外发射管的光电参数； 测量控制完全电脑操作，软件自带数据库，并能够自动生成报表。 |
SLT2102 LED光色电参数综合测试仪 仪器由光谱系统和自动光强测试系统组成，用于测量各种LED的所有基本光色电参数。 测量范围包括普通2脚、3脚LED 管、大功率管、贴片、食人鱼、模块和数码管等各种规格的LED； 测量LED 的电参数，包括反向漏流IR 、正向压降 Vf ； 测量LED 的色参数, 包括光谱半宽度、主波长、峰值波长、色纯度、色坐标、色温、显色指数； 测量LED 的光参数, 包括二维空间光强角分布、最大光强、动态光强、零度光强、半强度角、偏差角、 光强扩散角、光通量。 |
SLT3102 LED光热电性能测试仪 仪器主要用于LED结温和热阻的测量，以及结温和其发光效率实际关系的测量。 测量结温、热阻、光强（或光通量）/时间相关曲线； 测量LED IV特性曲线； 测量电压/时间曲线（VT）； 测量LED电压温度系数K； 测量标准条件和热平衡条件的热阻、结温； 测量瞬态升温、降温曲线（瞬态电压/时间、结温/时间、热阻/时间曲线）； 测量动态电压/时间、结温/时间和热阻/时间曲线。 |
仪器主要用于大功率LED的快速分光分色，适用于各种外形的成品大功率LED、半成品大功率LED的在线分选。操作人员能够使用这套仪器一次完成检测、分BIN全过程，配套的快速分BIN盒16/24/48/96BIN可选，并且具有定位指示功能，帮助用户迅速准确地将测试完成大功率放入对应分BIN盒中。可加配显微镜用于未点胶大功率LED色温控制，帮助客户进行品质管理。测试速度大于6K/H，有效分BIN速度（包括测试和分BIN操作）约1.5K/H。所有测试数据都能够保存到系统数据库，并支持EXCEL和PDF格式文档保存。 |
SLT2202 LED芯片光色电参数测试系统 测试系统由LED光色电分析系统和LED 芯片测试平台组成。测试平台则由样品台（移动范围为75*75mm）、探针架（三维）、光纤和光强测量支架、显微镜、电路控制盒等部分构成，能够快速平稳地点亮各种LED芯片。 测量参数包括：正向电压、正向电流、反向漏流、光强（mcd）、峰值波长、主波长、光谱半宽度（带宽）、色温、色坐标（x , y）或（u ,v）值、色纯度、显色指数、光通量、光功率等； 具有光参数，主波长，色坐标，色温和显色指数分档和显示功能，档位最大可以设到256BIN。 |
SLT2302 LED外延片光色电参数测试仪 测试仪由光谱分析系统和外延片测量支架构成，测量外延片的基本光色电参数，包括正向电压、反向漏电流、光强、光谱能量分布、波长、色温、色坐标、光通量、光功率、显色指数。测试支架能够满足上下两个方向的测量。 |
SLA2512 LED老化试验机 仪器用于普通LED的老化试验，具有12路高精度恒流输出，每路8颗LED，6mA-80mA连续可调，可同时老化96只LED。 |
SLT6100 LED荧光粉激发光谱测试仪 系统由光谱分析系统和荧光粉激发装置构成，主机恒流源为激发光源供电，用户可自行确定激发光源，用于测量荧光粉受激光谱、相对亮度等光色参数。光纤传输光信号，探测器一级校准。 |
SLT6300 LED荧光粉相对亮度测试仪 本系统由主机与荧光粉激发装置构成，主要用于测量荧光粉的相对亮度。激发光源可由用户确定,相对亮度测量选用近场条件，光信号通过光纤传输。探测器为V(λ)一级校准。 |
SLA3512大功率LED老化光衰试验机 仪器主要用于老化各种型号规格的大功率管。 测试范围包括各种大小规格的大功率LED ； 四路恒流可调,每路最大可到1000mA ，并可测试单管电压； 可自主设定老化时间及模式（点亮时间和熄灭时间），仪器按照设定值自动转换和记录。配合软件可读出测量参数，包括时间、电流、电压、光强、光通量和温度, 便于用户分析管子的光衰情况； 仪器内含温控系统。用户可设定温度最高值，高于上限,仪器自动开启散热组件,直至降为温度下限停止，从而保证测量条件恒定,加强数据可靠性。 |
SLT2402灯具光色电综合参数测试仪 系统主要由光谱仪和积分球构成，可满足节能灯、环型灯、直管荧光灯、金卤灯、汞灯、钠灯、卤钨灯、白炽灯、电珠、LED等各类灯具产品的光色电一体化测试需求。 主要测试光源的色品坐标、色温、显色性指数、色容差、峰值波长、主波长、色纯度、半宽度、色比、光谱分布、光通量、光辐射功率、温度、光效、电压、电流、功率、功率因数、频率等参数； 满足国际照明委员会CIE对光和颜色测量要求； 波长测试范围：380nm-800nm。 |
SLT5202灯具光强空间分布测试仪 系统采用标准CIE C-γ测试方案，用于大型灯具（最大重量30KG，长度180cm）配光曲线及光电特性等相关参数的测量。包括空间光强分布曲线、色度空间分布、光强及其对应角度、照度、功率因数及相关参数。配合专用软件实现良好的人机交流和精密测量。主要应用于各种路灯，室内外灯具的光度照度分布等参数的测定。 各项参数设置或校准均在软件界面操作，多项测量模式可选。 提供IE S格式输出文本。 |
仪器主要针对LED杯灯的光强相关参数的测量，可以测量杯灯的光强及其空间角分布（配光曲线及参数）、电参数（反向漏流IR、正向压降VF），三维测试功能方便找到灯具空间的最大光强及其角度。 测量范围包括各种规格的LED灯具，最大可测量到直径20cm，配套定制夹具； 测量LED灯具的电参数（反向漏流IR 、正向压降 VF）； 测量LED灯具正向电流和正向电压、法向光强、光通量的关系曲线；反向电流和反向电压的关系曲线； 配合红外探测器测量红外发光管的光电参数； 配合积分球测量LED灯具的光通量，具备数据库和自动生成报表功能。 |
